粉末微粒電阻率測試儀

產品概述：

粉末電阻率試驗儀主要用于測量粉末材料電阻率試驗的專用儀器.

由于粉末材料的密實度不同,在松裝和振實密度條件下,所測試得到的數據是不同的,所以測試粉末電

阻,要求在規定的壓力條件下進行測試.便于進行有效數據的測試及對比.

儀器由主機、測試架兩大部分組成。主機包括高靈敏的直流數字電壓表和高穩定的直流恒流源測量

試驗設置通過觸摸屏進行操作和設置，頁面布局合理，人性化設計，可對測試結果進行打印。

儀器適用于導體粉末、半導體粉末、炭素材料等行業

 儀器主要技術指標：

一、 測量范圍：

測量半導電電阻率時： 電阻率10-6—105Ω-cm；分辯率10-6Ω-cm

                      測量其他（電線電纜）電阻時： 電阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ

二、 電壓測量：

1．  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2．  測量誤差  2mA檔±(0.5%讀數+8字)；20mV—2V擋±(0.5%讀數+2字)

3．  顯示4 1/2 位數字顯示0—19999具有極性和過載自動顯示，小數點、單位自動顯示。

三、 恒流源：

1．  電流輸出： 10μA、100μA、1mA、10mA、100mA、0.5A、1A、10A

2.    電流誤差：±(0.5%讀數+2字)

四、 數據打?。?/p>

可對測試結果進行打印，顯示結果為：體積電阻率、電阻值

對于更高頻率下的測量，應采用兩電極系統，圓形的等直徑同軸電極；薄膜材料。內電極應由能與試樣表面良好接觸并且不會導致因接觸電阻或污染試樣而引起明顯誤差的材料組成。注：應用非接觸電極方法進行高頻下的損耗因數測量可能更準確，這是因為由內電極產生的介質損失隨頻率而增加的緣故。在試驗條件下，電極材料應能耐腐蝕。這些電極應與背托電極一起使用。如果測量非常薄的薄膜（2或更?。?。

為了避免在背托電極定位時破壞試樣，層鋁箔。建議確定電極是否影響測試結果，可以通過應用兩種不同類型電極，然后對其結果進行比較而實現。只要樣品材料不受真空處理或離子輻射產生較大影響，大多數推薦的電極類型是由蒸發或真空噴鍍金屬制成的，通常鋁、銀或金也可用做電極材料。鍍層厚度約為150nm的金屬膜，可在電氣性能方面展現出好結果，并且在金屬沉積過程中對樣品材料產生低的應力。應用遮框制造電有非常精確的邊緣，蒸發之前，箱內真空度應為5.25X10-3mPa或更低。在蒸發過程中，成膜速率大約為1nm/so通過產生電極的材料的蒸發，借助電容器在其上放電而形成的電極沉積，通常是一種不受控制的短暫過程。噴鍍電極在噴鍍過程中施加于樣品上的應力、質量和性能取決于氣體選擇、反應箱內的氣體壓力、施加電壓和樣品在反應箱內的位置。

建議按所選擇噴鍍設備選定條件的佳參數。金屬化試樣不能在金屬化后立即測量，例如，由于需要暴露于大氣條件處理一段時間，應注意把電極腐蝕的影響降低到小程度。在這種情況下，推薦使用蒸發的金電極，這對低損耗因數的材料，如對聚丙烯特別重要

粉末微粒電阻率測試儀

粉末微粒電阻率測試儀